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電路測試技術與儀器
~
朱錫仁
電路測試技術與儀器
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
朱錫仁,
其他作者:
朱錫仁,
出版地:
台北市
出版者:
儒林圖書有限公司;
出版年:
民81
版本:
初版
面頁冊數:
449面插圖 : 23公分;
ISBN:
957-652-351-6
電路測試技術與儀器
朱, 錫仁
電路測試技術與儀器
= : / 朱錫仁著 ; 朱錫仁編 - 初版. - 台北市 : 儒林圖書有限公司, 民81. - 449面 ; 插圖 ; 23公分.
ISBN 957-652-351-6
朱, 錫仁
電路測試技術與儀器
LDR
:00458cam2 2200169 050
001
81980
005
20100521124912.0
009
00026722
010
0
$a
957-652-351-6
$b
平裝
$d
新臺幣240元
100
$a
20100528d y0 y09 e
101
0
$a
chi
102
$a
cw
200
1
$a
電路測試技術與儀器
$f
朱錫仁著
$g
朱錫仁編
$d
$e
205
$a
初版
210
$a
台北市
$c
儒林圖書有限公司
$d
民81
215
0
$a
449面
$c
插圖
$d
23公分
681
$a
448.12
$b
8986
700
1
$a
朱
$b
錫仁
$4
著
$3
101232
702
1
$a
朱
$b
錫仁
$4
編
$3
101232
801
0
$a
cw
$c
19931225
$g
CCR
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館藏地:
全部
B2密集書庫1
出版年:
卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
818482
B2密集書庫1
圖書流通(BOOK_CIR)
BOOK
448.12/8986
一般使用(Normal)
書架上
0
B2密集一
1 筆 • 頁數 1 •
1
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