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APPLE II 電路分析與故幛檢修
~
徐德仁
APPLE II 電路分析與故幛檢修
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
徐德仁,
出版地:
台北市
出版者:
全華科技圖書股份有限公司;
出版年:
民74年
版本:
初版
面頁冊數:
172圖 : 26公分;
附註:
共有附錄參篇資料四篇
APPLE II 電路分析與故幛檢修
徐, 德仁
APPLE II 電路分析與故幛檢修
= : / 徐德仁著 ; - 初版. - 台北市 : 全華科技圖書股份有限公司, 民74年. - 172 ; 圖 ; 26公分.
共有附錄參篇資料四篇.
APPLE II 電路分析與故幛檢修
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CCR
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館藏地:
全部
B2密集書庫1
出版年:
卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
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1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
760526
B2密集書庫1
圖書流通(BOOK_CIR)
BOOK
471.5/8556
一般使用(Normal)
書架上
0
B2密集一
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