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邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度
~
林正中
邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
副題名:
專章討論降低電路測試難度
作者:
林正中,
出版地:
台北市
出版者:
新智出版社;
出版年:
民77
版本:
初版
面頁冊數:
595面23公分;
標題:
邏輯電路 -
邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度
林, 正中
邏輯設計原理
= : 專章討論降低電路測試難度 / 林正中譯 ; - 初版. - 台北市 : 新智出版社, 民77. - 595面 ; 23公分.
參考資料.索引.
邏輯電路
邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度
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CCR
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館藏地:
全部
B2密集書庫1
101年打包待報廢
出版年:
卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
3 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
073124
B2密集書庫1
圖書流通(BOOK_CIR)
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一般使用(Normal)
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B2密集一
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B2密集書庫1
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一般使用(Normal)
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B2密集一
3 筆 • 頁數 1 •
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