Semiconductor memories : technology,...
Sharma, Ashok K.

 

  • Semiconductor memories : technology, testing, and reliability
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    副題名: technology, testing, and reliability
    作者: SharmaAshok K.,
    出版地: Piscataway, N.J.
    出版者: IEEE Press;
    出版年: c1997
    面頁冊數: xii, 462 p.ill. : 26 cm.;
    標題: Semiconductor storage devices -
    附註: "IEEE order number: PC3491."
    ISBN: 0-7803-1114-0
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