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Digital circuit testing and testability
~
Lala, Parag K. (1948-)
Digital circuit testing and testability
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
LalaParag K., 1948-
出版地:
San Diego
出版者:
Academic Press;
出版年:
c1997
面頁冊數:
xii, 199 p.ill. : 24 cm.;
標題:
Integrated circuits - Very large scale integration -
標題:
Digital integrated circuits - Testing -
標題:
Integrated circuits - Fault tolerance -
ISBN:
0-12-4343309
Digital circuit testing and testability
Lala, Parag K.
Digital circuit testing and testability
= : / Parag K. Lala ; - San Diego : Academic Press, c1997. - xii, 199 p. ; ill. ; 24 cm..
Includes bibliographical references and index.
ISBN 0-12-4343309
Integrated circuitsDigital integrated circuitsIntegrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Fault tolerance
Digital circuit testing and testability
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Includes bibliographical references and index
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AACRII
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館藏地:
全部
B2密集書庫2
出版年:
卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
102945
B2密集書庫2
圖書流通(BOOK_CIR)
BOOK
621.395/L193
一般使用(Normal)
書架上
0
六樓西文區
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