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邏輯IC測試器 IC test : 畢業專題
邏輯IC測試器 IC test : 畢業專題
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
副題名:
畢業專題
出版地:
彰化市
出版者:
建國技術學院電子系;
出版年:
民83年
面頁冊數:
150頁插圖 : 29公分;
邏輯IC測試器 IC test : 畢業專題
邏輯IC測試器 IC test
= : 畢業專題 / 梁英智.李沿慶.殷國彬.廖兼_.黃婉如.林姮君.賴純純 ; - 彰化市 : 建國技術學院電子系, 民83年. - 150頁 ; 插圖 ; 29公分.
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館藏地:
全部
六樓特藏二
出版年:
卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
040109
六樓特藏二
不外借(NON_CIR)
畢業專題製作(專題研究報告)
G 008/8686 c.1
一般使用(Normal)
書架上
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3F學生專題
不可經借書機辦理借閱。
089907
六樓特藏二
不外借(NON_CIR)
畢業專題製作(專題研究報告)
G 008/8686
一般使用(Normal)
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3F學生專題
不可經借書機辦理借閱。
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