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Atomic force microscopy : understand...

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Haugstad, Greg (1963-)

Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
副題名:	understanding basic modes and advanced applications
作者:	HaugstadGreg, 1963-
出版地:	Hoboken, N.J.
出版者:	John Wiley & Sons;
出版年:	c2012
面頁冊數:	xxii, 464 p.ill. : 25 cm.;
標題:	Atomic force microscopy -
電子資源:	http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1215/2012003429-b.html
電子資源:	http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1210/2012003429-d.html
電子資源:	http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1215/2012003429-t.html
附註:	Includes bibliographical references and index
ISBN:	978-0-470-63882-8

Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications
Haugstad, Greg

Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications / Greg Haugstad - Hoboken, N.J. : John Wiley & Sons, c2012. - xxii, 464 p. ; ill. ; 25 cm..
Includes bibliographical references and index.
ISBN 978-0-470-63882-8ISBN 0-470-63882-6
Atomic force microscopy

Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications
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期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註

331885

六樓西文書庫區

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620.5/H371

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