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Characterization in silicon processing
~
Strausser, Yale.
Characterization in silicon processing
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
其他作者:
StrausserYale.,
出版地:
New York
出版者:
Momentum Press;
出版年:
2010.
面頁冊數:
xv, 240 p.ill. : 25 cm.;
集叢名:
Materials characterization series
標題:
Electric conductors. -
標題:
Semiconductor films. -
標題:
Silicon. -
標題:
Surface chemistry. -
ISBN:
1-60650-109-7
Characterization in silicon processing
Characterization in silicon processing
/ editor, Yale Strausser. - New York : Momentum Press, 2010.. - xv, 240 p. ; ill. ; 25 cm.. - (Materials characterization series).
Includes bibliographical references and index..
ISBN 1-60650-109-7ISBN 1-60650-111-9ISBN 978-1-60650-109-2ISBN 978-1-60650-111-5
Electric conductors.Semiconductor films.Silicon.Surface chemistry.
Strausser, Yale.
Characterization in silicon processing
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館藏地:
全部
六樓西文書庫區
出版年:
卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
1 筆 • 頁數 1 •
1
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典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
315139
六樓西文書庫區
圖書流通(BOOK_CIR)
BOOK
620.193/C469
一般使用(Normal)
書架上
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100年度教育部獎補助款 (中文書第一批)
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