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Microstructural characterization of ...
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David Brandon and Wayne D. Kaplan

 

  • Microstructural characterization of materials
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    作者: David Brandon and Wayne D. Kaplan
    其他作者:
    出版地: ChichesterNew York
    出版者: John Wiley & Sons;
    出版年: c1999
    面頁冊數: xiii, 409 p.ill. : 24 cm;
    ISBN: 0471985023
館藏地:  出版年:  卷號: 
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