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LabVIEW 7.1 Express圖控程式應用 : 含自動量測及硬碟應用
~
惠汝生
LabVIEW 7.1 Express圖控程式應用 : 含自動量測及硬碟應用
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
副題名:
含自動量測及硬碟應用
作者:
惠汝生,
出版地:
台北市
出版者:
全華圖書股份有限公司;
出版年:
c2008
版本:
修訂三版
面頁冊數:
1冊圖 : 26公分; 附光碟片+
標題:
測驗儀器及其使用 -
LabVIEW 7.1 Express圖控程式應用 : 含自動量測及硬碟應用
惠, 汝生
LabVIEW 7.1 Express圖控程式應用
= : 含自動量測及硬碟應用 / c惠汝生編著 ; - 修訂三版. - 台北市 : 全華圖書股份有限公司, c2008. - 1冊 ; 圖 ; 26公分.
測驗儀器及其使用
LabVIEW 7.1 Express圖控程式應用 : 含自動量測及硬碟應用
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平裝
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新臺幣600元
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館藏地:
全部
四樓中文書庫區
B2密集書庫3
出版年:
卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
262570
B2密集書庫3
圖書流通(BOOK_CIR)
BOOK
331.7029/8336
一般使用(Normal)
書架上
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四樓中文區
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四樓中文書庫區
書附光碟流通(BV_CIR)
DR-書附光碟
DR 331.7029/8336
一般使用(Normal)
盤點未到
0
四樓中文區
不可經借書機辦理借閱。
2 筆 • 頁數 1 •
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