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Semiconductor material and device ch...
~
Schroder, Dieter K.
Semiconductor material and device characterization
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
SchroderDieter K.,
出版地:
[Piscataway, NJ]Hoboken, N.J.
出版者:
IEEE PressWiley-Interscience; Wiley-Interscience;
出版年:
c2006.
版本:
3rd ed.
面頁冊數:
xv, 779 p.ill. : 25 cm.;
標題:
Semiconductors - Testing. -
標題:
Semiconductors. -
ISBN:
0-471-73906-5
Semiconductor material and device characterization
Schroder, Dieter K.
Semiconductor material and device characterization
= : / Dieter K. Schroder. ; - 3rd ed.. - [Piscataway, NJ]Hoboken, N.J. : IEEE PressWiley-Interscience, c2006.. - xv, 779 p. ; ill. ; 25 cm..
Includes bibliographical references and index..
ISBN 0-471-73906-5ISBN 978-0-471-73906-7
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館藏地:
全部
六樓西文書庫區
出版年:
卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
1 筆 • 頁數 1 •
1
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典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
275306
六樓西文書庫區
圖書流通(BOOK_CIR)
BOOK
621.3815/2/S381
一般使用(Normal)
書架上
0
六樓西文區
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