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Measurement and modeling of silicon ...

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Cressler, John D.

Measurement and modeling of silicon heterostructure device

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
其他作者:	CresslerJohn D.,
出版地:	Boca Raton, FL
出版者:	CRC Press;
出版年:	c2008.
面頁冊數:	1 v. (various pagings)ill. : 27 cm.;
標題:	Bipolar transistors - Mathematical models. -
標題:	Bipolar transistors. -
標題:	Heterostructures. -
標題:	Integrated circuits - Design and construction. -
ISBN:	1-4200-6692-7

Measurement and modeling of silicon heterostructure device
Measurement and modeling of silicon heterostructure device = : / edited by John D. Cressler. ; - Boca Raton, FL : CRC Press, c2008.. - 1 v. (various pagings) ; ill. ; 27 cm..
Includes bibliographical references and index..
ISBN 1-4200-6692-7ISBN 978-1-4200-6692-0
Bipolar transistorsBipolar transistors.Heterostructures.Integrated circuits -- Mathematical models. -- Design and construction.

Cressler, John D.

Measurement and modeling of silicon heterostructure device
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