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Thin film analysis by X-ray scattering
~
Birkholz, Mario
Thin film analysis by X-ray scattering
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
BirkholzMario,
出版地:
Weinheim
出版者:
Wiley-VCH;
出版年:
c.2005
版本:
1st ed.
面頁冊數:
xix,356p.ill. : 25cm.;
附註:
Includes index.
ISBN:
3-527-31052-5
Thin film analysis by X-ray scattering
Birkholz, Mario
Thin film analysis by X-ray scattering
= : / Mario Birkholz ; - 1st ed.. - Weinheim : Wiley-VCH, c.2005. - xix,356p. ; ill. ; 25cm..
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館藏地:
全部
B2密集書庫3
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卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
235005
B2密集書庫3
圖書流通(BOOK_CIR)
BOOK
314/B621
一般使用(Normal)
書架上
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六樓西文區
1 筆 • 頁數 1 •
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