語系:
繁體中文
English
簡体中文
說明(常見問題)
圖書館個人資料蒐集告知聲明
登入
回首頁
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of a...
~
汪島軍
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Patent analysis of atomic force
作者:
汪島軍,
出版地:
臺北市
出版者:
科資中心;
出版年:
2004[民93]
版本:
第一版
面頁冊數:
125面部分彩圖 : 30公分;
集叢名:
奈米科技專利研究系列8
標題:
電子顯微鏡 -
標題:
奈米技術 -
電子資源:
科資中心
ISBN:
957-619-117-3
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force
汪, 島軍
原子力顯微鏡專利地圖及分析
= Patent analysis of atomic force : / 汪島軍等作 ; - 第一版. - 臺北市 : 科資中心, 2004[民93]. - 125面 ; 部分彩圖 ; 30公分. - (奈米科技專利研究系列 ; 8).
含參考書目.
ISBN 957-619-117-3
電子顯微鏡奈米技術
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force
LDR
:00830cam2 2200253 050
001
123475
005
20100520153555.0
009
00165721
010
0
$a
957-619-117-3
$b
平裝
$d
新臺幣1500元
100
$a
20100529d2004 k n0chiy08 e
101
0
$a
chi
$d
chi
102
$a
tw
105
$a
a z 000yy
200
1
$a
原子力顯微鏡專利地圖及分析
$d
Patent analysis of atomic force
$f
汪島軍等作
$e
$g
205
$a
第一版
210
$a
臺北市
$c
科資中心
$d
2004[民93]
215
0
$a
125面
$c
部分彩圖
$d
30公分
225
2
$a
奈米科技專利研究系列
$v
8
301
$a
STIC-RPR-093-04
320
$a
含參考書目
410
0
$1
2001
$a
奈米科技專利研究系列
$v
8
510
1
$a
Patent analysis of atomic force microscope
$z
chi
606
$a
電子顯微鏡
$2
csh
$3
47189
606
$a
奈米技術
$2
csh
$3
44094
681
$a
471.73
$b
8474
700
1
$a
汪
$b
島軍
$4
等作
$3
126718
801
0
$a
tw
$c
20041227
$g
CCR
856
0
$u
http://www.stic.gov.tw
$z
科資中心
筆 0 讀者評論
館藏地:
全部
B2密集書庫3
出版年:
卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
180852
B2密集書庫3
圖書流通(BOOK_CIR)
BOOK
471.73/8474
一般使用(Normal)
書架上
0
五樓中文區
1 筆 • 頁數 1 •
1
多媒體
評論
新增評論
分享你的心得
建立或儲存個人書籤
書目轉出
取書館別
處理中
...
變更密碼
登入