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Fault-tolerance and reliability tech...

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Chakraborty, Kanad.

Fault-tolerance and reliability techniques for high-densit

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:	ChakrabortyKanad.,
合作者:	MazumderPinaki.,
出版地:	Upper Saddle River, NJ
出版者:	Prentice Hall;
出版年:	c2002.
面頁冊數:	xix, 426 p.ill. : 25 cm.;
集叢名:	Prentice Hall modern semicondu
標題:	Semiconeductor storage devices. -
標題:	Random access memory - Reliability. -
標題:	Integrated circuits - Fault tolerance. -
ISBN:	0-13-008465-4

Fault-tolerance and reliability techniques for high-densit
Chakraborty, Kanad.

Fault-tolerance and reliability techniques for high-densit = : / Kanad Chakraborty, Pinaki Mazumder. ; - Upper Saddle River, NJ : Prentice Hall, c2002.. - xix, 426 p. ; ill. ; 25 cm.. - (Prentice Hall modern semicondu ; ).
Includes bibliographical references (p. 377-417) and index..
ISBN 0-13-008465-4
Semiconeductor storage devices.Random access memoryIntegrated circuits -- Reliability. -- Fault tolerance.

Mazumder, Pinaki.

Fault-tolerance and reliability techniques for high-densit
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210 $a Upper Saddle River, NJ $c Prentice Hall $d c2002.
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館藏地: 出版年: 卷號:

館藏

期刊年代月份卷期操作說明(Help)

2 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註

176942

B2密集書庫3

圖書流通(BOOK_CIR)

BOOK

621.3973/C436

一般使用(Normal)

書架上

0

六樓西文區

210804

B2密集書庫2

圖書流通(BOOK_CIR)

BOOK

621.3973/C436 c.1

一般使用(Normal)

書架上

0

B2密集二

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