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積體電路生產線上各檢驗站缺陷與產品良率關聯性之研究0 = Study o
~
黃建隆
積體電路生產線上各檢驗站缺陷與產品良率關聯性之研究0 = Study o
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Study o
合作者:
黃建隆,
出版地:
新竹市
出版者:
國立交通大學工業工程研究所;
出版年:
民85
版本:
初版
面頁冊數:
32面附圖,表 : 30公分;
標題:
碩士論文 -
積體電路生產線上各檢驗站缺陷與產品良率關聯性之研究0 = Study o
積體電路生產線上各檢驗站缺陷與產品良率關聯性之研究0
= Study o : / 黃建隆撰 ; - 初版. - 新竹市 : 國立交通大學工業工程研究所, 民85. - 32面 ; 附圖,表 ; 30公分.
附錄:參考書目及索引.
碩士論文
黃, 建隆
積體電路生產線上各檢驗站缺陷與產品良率關聯性之研究0 = Study o
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指導教授:唐麗英,李威儀博士
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附錄:參考書目及索引
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國立交通大學工業工程研究所碩士論文
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碩士論文
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館藏地:
全部
六樓特藏二
出版年:
卷號:
館藏
期刊年代月份卷期操作說明(Help)
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
期刊出刊日期 / 原館藏地 / 其他備註
附件
109977
六樓特藏二
不外借(NON_CIR)
教師論文著作
TL 011.1/8374
一般使用(Normal)
書架上
0
4F特藏書一
不可經借書機辦理借閱。
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